製品紹介
低荷重高速一軸延伸試験装置（Model: ES-101）
特徴
小型かつ高感度ロードセルの搭載により、延伸過程中の僅かな荷重変化を検出できる
高速一軸延伸機構により、高分子フィルムの高速延伸試験及び、衝撃延伸試験が可能
主な仕様
検出荷重 ： 0 ～ 10 Kgf
延伸速度 ： 1 ～ 1000 mm/sec
延伸倍率 ： 10 --> 430 ｍｍ （43倍）
試験片幅 ： 10 ～ 30 mm
延伸モード： 延伸、弛緩、緩和
温度範囲 ： 常温 ～ 200 ℃（標準）
分解能 ： 0.001 Kgf
用途
高分子フィルム・機能性材料の機械的な特性の延伸試験
低荷重サンプルの延伸試験
高分子材料の高速延伸・高速衝突試験など
一軸延伸複屈折位相差測定装置（Model: RS-1）
特徴恒温槽付き高速一軸延伸ユニットと光弾性変調法の複屈折位相差測定ユニットの組み合わせにより、延伸過程中に延伸応力と複屈折位相差の変化挙動を同時に測定が可能
一軸延伸プロセス中に応力と複屈折位相差を同時に測定した結果から、力学と光学の両方面から一軸延伸プロセスの評価が可能
力学データと光学データをリアルタイム（20μsec）に測定可能なことから、高速延伸挙動の追随もできる
恒温水槽の搭載により、含水延伸評価及び、含水延伸中の応力と複屈折位相差の計測が可能
主な仕様
複屈折位相差： 光弾性変調法の連続測定
測定時間 ： リアルタイム（msec）
延伸距離 ： 15 --> 375mm （25倍）
延伸測定 ： 延伸、弛緩、緩和、多段延伸など
延伸速度 ： １～200mm/sec（標準）
温度範囲 ： ①恒温槽 常温～200℃（標準）
②含水延伸 常温～85℃（オプション）
用途（In-situ測定試験）
光学フィルム材料・機能性高分子材料などの延伸過程中の評価試験
光学材料・機能性材料などの光弾性係数測定
新素材開発、素材の延伸性、耐久試験など
延伸試験について
ご購入検討の延伸試験は可能です。
二軸延伸複屈折位相差測定装置（Model: RS-2）
特徴光弾性変調法（PEM）により、延伸過程中に複屈折位相差(Retardation)と配向軸(S.Axis)の同時測定が可能
多数の異なる温度設定により、様々な延伸条件で二軸延伸プロセス及び、二軸延伸性の評価できる
光学的（複屈折・配向軸）と力学的（応力・温度）データを同時に測定する事により、延伸中に力学的と光学的の両方面から延伸性を評価できる
主な仕様
複屈折位相差： 光弾性変調法の連続測定
測定時間 ： リアルタイム
延伸倍率 ： ①標準仕様 7×7倍
： ②高倍率 10×10倍
延伸測定 ： 延伸、弛緩、緩和、多段延伸など
延伸速度 ： １～200mm/sec（標準）
恒温槽数 ： 単槽式、二槽式、三槽式
温度範囲 ： ①標準仕様 常温～200℃
②高温仕様 常温～350℃（400℃まで対応可）
③含水仕様 常温～85℃
用途（In-situ測定試験）
光学フィルム材料・機能性高分子材料などの延伸過程中の評価試験
光学材料・機能性材料などの光弾性係数測定
新素材開発、新素材の延伸性評価、耐久試験など
延伸試験について
ご購入検討の延伸試験は可能です。
その他詳細はご問い合わせください。
複屈折位相差・配向軸測定装置（Model: Re-3i）
特徴傾斜ステージの搭載により、面内複屈折位相差と傾斜方向の複屈折位相差の測定結果から
屈折率楕円体（nx,ny,nz）及び三次元配向特性（Rth、β角）が得られる。
主な仕様
測定波長 ： 632.8nm、590nm（他波長も対応可）
傾斜測定 ： ±40°、0.1°ステップ
用途
光学材料・機能性高分子材料などの研究開発
光学フィルム、位相差フィルム、TACフィルムの品質管理、性能評価
延伸試験について
ご購入検討の延伸試験は可能です。
高精度複屈折位相差測定装置（Model: Re-3xy）
特徴XYステージの搭載により、測定試料の面内複屈折位相差分布の測定結果から、
延伸フィルムの偏肉精度、厚み分布などの評価ができる。
主な仕様
測定波長 ： 632.8nm、590nm（他波長も対応可）
スキャン測定範囲 ： 200×200ｍｍ
用途
光学材料・機能性高分子材料などの研究開発
光学フィルム、位相差フィルム、TACフィルムの品質管理、性能評価
延伸試験について
ご購入検討の延伸試験は可能です。
インライン型複屈折位相差・配向軸測定装置 （iRe5シリーズ）
特徴高速測定可能な光弾性変調法（PEM）により、生産中のフィルム幅方向の複屈折位相差(Retardation)と配向軸(S.Axis)の同時測定が可能
傾斜入射光学系の搭載により、生産中フィルムの幅方向位置の屈折率楕円体（nx,ny,nz）、厚み方向の配向特性（Rth,β角）が測定できる
主な仕様
測定方法 ： 光弾性変調法（PEM法）
測定波長 ： 632.8 nm（他波長も対応可）
測定範囲 ： 0 --> 2000 mm （延長可）
測定モード ： 幅方向連続測定/定位置連続測定
用途
生産中フィルム幅方向の複屈折位相差・配向軸測定
フィルムの光学特性などの品質維持
三次元配向特性・複屈折データからボーイング現象や破断の原因解析に応用